淺析那些因素制約著激光粒度分析儀的測(cè)試精度
更新時(shí)間：2015-06-18 點(diǎn)擊次數(shù)：2330
激光粒度分析儀就是利用光的散射原理測(cè)量粉顆粒大小的，是一種當(dāng)前粒度測(cè)量領(lǐng)域應(yīng)用zui廣泛的的粒度儀。其特點(diǎn)是測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍寬、測(cè)量速度快、操作方便，尤其適合測(cè)量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。激光粒度分析儀作為一種測(cè)試性能優(yōu)異和適用領(lǐng)域極廣的粒度測(cè)試儀器，已經(jīng)在其它粉體加工與應(yīng)用領(lǐng)域得到廣泛的應(yīng)用。
光是一種電磁波，當(dāng)光束前進(jìn)過(guò)程中遇到顆粒時(shí)，將發(fā)生散射現(xiàn)象，散射光與光束初始傳播方向形成一個(gè)夾角θ，散射角的大小與顆粒的粒徑相關(guān)，顆粒越大，產(chǎn)生的散射光的θ角就越小;顆粒越小，產(chǎn)生的散射光的θ角就越大。這樣，測(cè)量不同角度上的散射光的強(qiáng)度，就可以得到樣品的粒度分布了。
隨著粉體技術(shù)的發(fā)展，對(duì)粒度分析儀的性能要求在逐步的提高，特別是粒度儀的量程要求越來(lái)越寬。測(cè)量下限要求達(dá)到幾百甚至幾十個(gè)納米，測(cè)量上限要求達(dá)到一千甚至幾千微米。這對(duì)新型激光粒度分析儀設(shè)計(jì)者提出了極大的挑戰(zhàn)。
顆粒越細(xì)，散射光的角度越小，微小顆粒的散射光甚至在360度范圍內(nèi)都有分布。為了拓展儀器的測(cè)量下限。需要有非常規(guī)的光學(xué)設(shè)計(jì)。
無(wú)論是何種設(shè)計(jì)的激光粒度分析儀，都存在一個(gè)測(cè)量窗口，樣品在窗口中充分分散，被激光照射，產(chǎn)生散射光。
濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司——一直以“發(fā)展與普及當(dāng)代的顆粒測(cè)試技術(shù)"為己任，研制的濕法、干法、醫(yī)用噴霧、工業(yè)噴霧等系列的激光粒度測(cè)試設(shè)備，均代表了國(guó)內(nèi)同行業(yè)的zui高水平。
